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    光纜技術 TECHNOLOGY

    G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析

    發布時間: 2014年12月09日 11:48
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    G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析

     

    ·  2010年11月9日消息,光纖宏彎損耗測試,在國家標準GB/T9771.3-2008中描述:光纖以30mm半徑松繞100圈,在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。

      而注2中描述:為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度,可用1圈或幾圈小半徑環光纖代替100圈光纖進行試驗,在此情況下,繞的圈數環的半徑和最大允許的彎曲損耗都應該選的與30mm半徑100圈試驗的損耗值相適應。

      大多光纖廠家都提供Φ60mm*100圈的判斷標準,然而,在日常的測試工作中,若要采用方便快捷的實驗方法,則傾向于按照注2中的建議去進行一些常規判斷。因此,掌握Φ32mm*1圈與Φ60mm*100圈的數據差異就十分有必要。

      一、兩種宏彎損耗測試方法的比較

    G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析【轉載】

     

      圖為 兩種宏彎損耗測試方法示意圖

      用上述方法對10盤正常生產條件下的光纖樣品進行對比測試。

    整體數據匯總圖形如下:

      從整體數據匯總圖可看出Φ32mm*1宏彎測試方法所得數據的平均值和標準偏差都比Φ60mm*100的要小,且數據相對穩定,重復性好。當然所抽樣 品也不是完全都遵循此規律,10個樣品中有3個樣品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得數據的平均值大于Φ60mm*100所測得的;還有1個樣品在 1550nm、1625nm窗口下所得數據的標準偏差大于Φ60mm*100的。

      10個樣品用兩種測試方法所得數據的平均值和標準偏差相差不大,處于一個數據等級內。Φ32mm*1的判斷標準應考慮的與60mm*100比較接近。

      在測試過程中,Φ32mm*1宏彎測試方法易于操作,能減少測試誤差,根據GB/T9771.3-2008宏彎損耗的說明,認為Φ32mm*1宏彎測試方法可作為判斷光纖宏彎性能的一種簡便方法。

      而Φ60mm*100作為標準明確規定一種方法,其準確性的提高需依賴于測試裝置的改良,如,保證光纖以盡可能一致的直徑、適宜的張力纏繞100圈。

      二、宏彎與截止波長的關系

      為更好的摸索宏彎損耗與截止波長的關系,隨機抽取760個樣品進行實驗,實驗數據如圖1、圖2:

     G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析【轉載】

    圖1:1550nm宏彎損耗與截止波長分布

     G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析【轉載】

    圖2:1625nm宏彎損耗與截止波長分布

      由圖1可明顯看出1625nm的數據較1550nm窗口下宏彎損耗分散,實際數據證實長波長對彎曲的敏感程度更甚。

      由圖2可看出1625nm宏彎損耗相對集中時對應的截止波長也相對集中分布在1210nm-1290nm,截止波長越小,宏彎損耗越大,且分布散亂無規律。

      通過以上分析,可以看出截止波長對宏彎損耗有一定的影響,當截止波長分布在1210nm-1290nm范圍內時,1550nm、1625nm窗口下宏彎損耗相對集中,數據穩定,這為我們優化工藝改善宏彎損耗提供了有利的數據依據。

      三、結論

      1、Φ32mm*1宏彎測試方法可作為判斷光纖宏彎性能的一種簡便方法。

      2、而Φ60mm*100作為標準明確規定的一種方法,其準確性的提高需依賴于測試裝置的改良。

      3、大量實踐數據驗證了截止波長與宏彎損耗存在相關性。

     

        我的問題是:對于G652D光纖,是否也可以用Φ32mm*1圈,波長為1310nm,損耗<0.1dB來判斷光纖宏彎性能呢?(回答:可以。)而對于 G657A1光纖,又應該是什么來判斷其宏彎性能呢?是否為Φ10mm*1圈,波長為1310nm,損耗<0.05dB?(回答:損耗大小有待考察。但根 據2009-ITU-T標準,直徑為15mm,繞一圈,1550nm,最大損耗為0.5dB)。具體見博文《光纖類型》。

        有次為了辨別是G652D纖還是G657A1纖(為900um光纜),我的做法是:用Φ12mm*3圈,監控波長為1310nm,當損耗>0.1dB時 (一般變化0.2~0.3dB),判斷為G652D纖;當損耗<0.1dB時(一般變化在0.05dB內),判斷為G657A1纖。經過驗證,這樣判斷是 正確的。

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